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Poster

Chemically resolved depth profiles from synchrotron XPS of oxygen ion-driven reactions with Be2W

MPG-Autoren
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Köppen,  M.
W7-X: Engineering (EN), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons110380

Schmid,  K.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons110149

Phan,  T.-V.
Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons130799

Riesch,  J.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons109819

Linsmeier,  Ch.
Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Zitation

Köppen, M., Schmid, K., Löchel, H., Phan, T.-V., Riesch, J., Vollmer, A., et al. (2012). Chemically resolved depth profiles from synchrotron XPS of oxygen ion-driven reactions with Be2W. Poster presented at 25th Symposium on Surface Science 2012 (3S'12), St. Christoph/Arlberg.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-C0B0-F
Zusammenfassung
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