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Poster

Mapping of Sn dopant in hematite photoanodes by STEM-EELS and atom probe tomography

MPG-Autoren
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Zhang,  Siyuan
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Li,  Tong
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons185411

Gault,  Baptiste
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons140065

Breitbach,  Benjamin
Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76047

Scheu,  Christina Ulrike
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Zhang, S., Li, T., Gault, B., Hufnagel, A., Hoffmann, R., Harzer, T., et al. (2017). Mapping of Sn dopant in hematite photoanodes by STEM-EELS and atom probe tomography. Poster presented at EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons, 8th International Workshop on Electron Energy Loss Spectroscopy and Related Techniques, Okuma, Okinawa, Japan.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-A5A5-4
Zusammenfassung
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