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Poster

Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy

MPG-Autoren
/persons/resource/persons136321

Hieke,  Stefan Werner
Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75388

Dehm,  Gerhard
Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76047

Scheu,  Christina Ulrike
Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. U. (2015). Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy. Poster presented at TEM-UCA: Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials - European Summer Workshop (TEM-UCA 2015), Cádiz, Spain.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0023-C731-3
Zusammenfassung
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