Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Charge transfer quantification in a SnOx/CuPc semiconductor heterostructure: investigation of buried interface energy structure by photoelectron spectroscopies

MPG-Autoren
/persons/resource/persons133176

Krzywiecki,  Maciej
Institute of Physics – CSE, Silesian University of Technology, B. Krzywoustego 2, 44–100 Gliwice, Poland;
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons133083

Sarfraz,  Adnan
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125132

Erbe,  Andreas
Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;
Department of Materials Science and Engineering, NTNU - Norwegian University of Science and Technology, 7491 Trondheim, Norway;

Externe Ressourcen
Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt
Volltexte (beschränkter Zugriff)
Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Krzywiecki, M., Grządziel, L., Sarfraz, A., & Erbe, A. (2017). Charge transfer quantification in a SnOx/CuPc semiconductor heterostructure: investigation of buried interface energy structure by photoelectron spectroscopies. Physical Chemistry Chemical Physics, 19(19), 11816-11824. doi:10.1039/C7CP01688C.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-569B-9
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar