KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: 
application to in situ mechanically loaded nanowires

Leclere, C.; Cornelius, T.W.; Ren, Z.; Robach, O.; Micha, J.-S.; Davydok, A.; Ulrich, O.; Richter, Gunther; Thomas, O.

doi:10.1107/S1600577516013849

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KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires

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Richter, Gunther
Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Leclere, C., Cornelius, T., Ren, Z., Robach, O., Micha, J.-S., Davydok, A., et al. (2016). KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires. Journal of Synchrotron Radiation, 23, 1395-1400. doi:10.1107/S1600577516013849.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-297C-9

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