Ellipsometry and X-ray reflectivity studies on monolayers of 
phosphatidylethanolamine and phosphatidylcholine in contact with n-dodecane, 
n-hexadecane, and bicyclohexyl

Thoma, M.; Schwendler, M.; Baltes, H.; Helm, C. A.; Pfohl, T.; Riegler, H.; Möhwald, H.

doi:10.1021/la9508194

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Ellipsometry and X-ray reflectivity studies on monolayers of phosphatidylethanolamine and phosphatidylcholine in contact with n-dodecane, n-hexadecane, and bicyclohexyl

MPG-Autoren

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Baltes, H.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Pfohl, T.
Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Riegler, H.
Hans Riegler, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Möhwald, H.
Helmuth Möhwald, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society;

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Zitation

Thoma, M., Schwendler, M., Baltes, H., Helm, C. A., Pfohl, T., Riegler, H., et al. (1996). Ellipsometry and X-ray reflectivity studies on monolayers of phosphatidylethanolamine and phosphatidylcholine in contact with n-dodecane, n-hexadecane, and bicyclohexyl. Langmuir, 12(7), 1722-1728. doi:10.1021/la9508194.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-747E-0

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