Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
  Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben
Konferenzbeitrag

Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates

MPG-Autoren
/persons/resource/persons126855

Simon,  P.
Paul Simon, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

/persons/resource/persons126563

Carrillo-Cabrera,  W.
Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

/persons/resource/persons126529

Baitinger,  M.
Michael Baitinger, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

/persons/resource/persons126626

Grin,  Y.
Juri Grin, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

/persons/resource/persons126631

Guloy,  A. M.
Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt
Volltexte (beschränkter Zugriff)
Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Simon, P., Carrillo-Cabrera, W., Zhongjia, T., Chiong, K., Baitinger, M., Grin, Y., et al. (2010). Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates. Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium, Session analytics I.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-24A2-0
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar