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Zeitschriftenartikel

Single and multiple profile fitting of AES and XPS intensity-depth profiles for analysis of interdiffusion in thin films

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75898

Noah,  Martin
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons81276

Flötotto,  David
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76262

Wang,  Zumin
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  Eric Jan
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Institut für Materialwissenschaft, Universität Stuttgart;

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Zitation

Noah, M., Flötotto, D., Wang, Z., & Mittemeijer, E. J. (2014). Single and multiple profile fitting of AES and XPS intensity-depth profiles for analysis of interdiffusion in thin films. Surface and Interface Analysis, 46, 1057-1063. doi:10.1002/sia.5369.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-AFF5-2
Zusammenfassung
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