Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in 
thermoelectric clathrate Ba8Ga16Si30

Bentien, A.; Iversen, B. B.; Bryan, J. D.; Stucky, G. D.; Palmquist, A. E. C.; Schultz, A. J.; Henning, R. W.

doi:10.1063/1.1466531

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学術論文

Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in thermoelectric clathrate Ba₈Ga₁₆Si₃₀

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Bentien, A.
Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

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Bentien, A., Iversen, B. B., Bryan, J. D., Stucky, G. D., Palmquist, A. E. C., Schultz, A. J., & Henning, R. W. (2002). Maximum entropy method analysis of thermal motion and disorder in thermoelectric clathrate Ba₈Ga₁₆Si₃₀. Journal of Applied Physics, 91(9), 5694-5699. doi:10.1063/1.1466531.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-3153-C

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