de.mpg.escidoc.pubman.appbase.FacesBean
Deutsch
 
Hilfe Wegweiser Impressum Kontakt Einloggen
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Konferenzbeitrag

Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons84227

Son,  HI
Department Human Perception, Cognition and Action, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Son, H., Kim HW, Lee, H., & Jeong, D. (2005). Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm. In EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision (pp. 129-130). Hannover, Germany: European Optical Society.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-D561-F
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar