de.mpg.escidoc.pubman.appbase.FacesBean
Deutsch
 
Hilfe Wegweiser Datenschutzhinweis Impressum Kontakt
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Konferenzbeitrag

In-situ atomic resolution high-voltage electron microscopy

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75946

Phillipp,  F.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75759

Lee,  S. B.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Phillipp, F., Lee, S. B., & Merkle, K. L. (2004). In-situ atomic resolution high-voltage electron microscopy. In Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM) (pp. 653-654). Japanese Society for Electron Microscopy.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-8037-8
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar