Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical 
microscopy

Knoll, B.; Keilmann, F.

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Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical microscopy

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Zitation

Knoll, B., & Keilmann, F. (2000). Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical microscopy. Optics Communications, 182(4-6), 321-328.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-717F-A

Zusammenfassung

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