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Zeitschriftenartikel

Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75535

Gu,  L.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Yu,  Y.
Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76208

Tsukimoto,  S.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Maier,  J.
Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76219

van Aken,  P. A.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Gu, L., Yu, Y., Sigle, W., Usami, N., Tsukimoto, S., Maier, J., et al. (2010). Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope. Applied Physics Letters, 97(21): 213102. doi:10.1063/1.3518703.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F87-0
Zusammenfassung
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