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Konferenzbeitrag

Ruddlesden-Popper type faults in LaNiO3/LaAlO3

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75400

Detemple,  E.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Cristiani,  G.
Max Planck Society;

Habermeier,  H.-U.
Max Planck Society;

Keimer,  B.
Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76219

van Aken,  P. A.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Detemple, E., Ramasse, Q., Sigle, W., Cristiani, G., Habermeier, H.-U., Keimer, B., et al. (2012). Ruddlesden-Popper type faults in LaNiO3/LaAlO3. In J. Heber, D. Schlom, Y. Tokura, R. Waser, & M. Wuttig (Eds.), Frontiers in Electronic Materials (pp. 138-139). Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlag & Co. KGaA.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B9D-2
Zusammenfassung
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