Element-specific hysteresis loop measurements on individual 35 nm islands with 
scanning transmission X-Ray microscopy

Luo, F.; Eimüller, T.; Amaladass, E.; Lee, M. S.; Heyderman, L. J.; Solak, H. H.; Tyliszczak, T.

doi:10.1166/jnn.2012.5778

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Element-specific hysteresis loop measurements on individual 35 nm islands with scanning transmission X-Ray microscopy

MPG-Autoren

/persons/resource/persons75219

Amaladass, E.
Former Central Scientific Facility Pelletron Accelerator, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Volltexte in PuRe verfügbar

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Luo, F., Eimüller, T., Amaladass, E., Lee, M. S., Heyderman, L. J., Solak, H. H., et al. (2012). Element-specific hysteresis loop measurements on individual 35 nm islands with scanning transmission X-Ray microscopy. Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 12(3), 2484-2488. doi:10.1166/jnn.2012.5778.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B57-B

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar