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Konferenzbeitrag

Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75691

Koch,  C. T.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1138-1138). International Federation of Societies in Microscopy.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4894-6
Zusammenfassung
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