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Konferenzbeitrag

Mechanical stress gradients in thin films analyzed employing X-ray diffraction measurements at constant penetration/information depths

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76299

Wohlschlögel,  M.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75261

Baumann,  W.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76284

Welzel,  U.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  E. J.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft;

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Zitation

Wohlschlögel, M., Baumann, W., Welzel, U., & Mittemeijer, E. J. (2006). Mechanical stress gradients in thin films analyzed employing X-ray diffraction measurements at constant penetration/information depths.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4838-7
Zusammenfassung
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