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Konferenzbeitrag

An X-ray diffraction method to determine stress at constant penetration/information depths

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75731

Kumar,  A.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76284

Welzel,  U.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76299

Wohlschlögel,  M.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75261

Baumann,  W.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  E. J.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft;

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Zitation

Kumar, A., Welzel, U., Wohlschlögel, M., Baumann, W., & Mittemeijer, E. J. (2006). An X-ray diffraction method to determine stress at constant penetration/information depths.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4835-D
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