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Zeitschriftenartikel

Electron energy-loss spectroscopy study of a multilayered SiOx and SiOxCy film prepared by plasma-enhanced chemical vapor deposition

MPG-Autoren
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Zhang,  Z.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76249

Wagner,  T.
Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Zhang, Z., Wagner, T., Sigle, W., & Schulz, A. (2006). Electron energy-loss spectroscopy study of a multilayered SiOx and SiOxCy film prepared by plasma-enhanced chemical vapor deposition. Journal of Materials Research, 21, 608-612.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4805-A
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