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Konferenzbeitrag

Low-loss electron spectroscopy using monochromated electrons

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76143

Srot,  V.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75535

Gu,  L.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75691

Koch,  C. T.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75607

Höschen,  R.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
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Zitation

Sigle, W., Srot, V., Gu, L., Koch, C. T., Höschen, R., Essers, E., et al. (2006). Low-loss electron spectroscopy using monochromated electrons. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 811-811). International Federation of Societies in Microscopy.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47DD-C
Zusammenfassung
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