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Zeitschriftenartikel

Damage analysis in Al thin films fatigued at ultrahigh frequencies

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75427

Eberl,  C.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76138

Spolenak,  R.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75712

Kraft,  O.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75228

Arzt,  E.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde;

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Zitation

Eberl, C., Spolenak, R., Kraft, O., Kubat, F., Ruile, W., & Arzt, E. (2006). Damage analysis in Al thin films fatigued at ultrahigh frequencies. Journal of Applied Physics, 99: 113501.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46FA-1
Zusammenfassung
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