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Microstructure characterization of a cobalt-oxide-doped cerium-gadolinium-oxide by analytical and high-resolution TEM

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Zhang, Z., Sigle, W., Rühle, M., E. Jud, E., & Gauckler, L. J. (2007). Microstructure characterization of a cobalt-oxide-doped cerium-gadolinium-oxide by analytical and high-resolution TEM. Acta Materialia, 55, 2907-2917.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43C1-A
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