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Konferenzbeitrag

EELS investigations of reference niobium oxides and anodically grown niobium oxide layers

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Bach, D., Störmer, H., Schneider, R., Gerthsen, D., & Sigle, W. (2007). EELS investigations of reference niobium oxides and anodically grown niobium oxide layers. In M. Marko, J. Scott, E. Vicenzi, S. Dekanich, J. Frafjord, P. Kotula, et al. (Eds.), Microscopy and Microanalysis 2007 (pp. 1274CD-1275CD). New York, USA: Cambridge University Press.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43BB-9
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