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Zeitschriftenartikel

Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75535

Gu,  L.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76143

Srot,  V.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75691

Koch,  C.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76219

van Aken,  P. A.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C., van Aken, P. A., Scholz, F., et al. (2007). Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons. Physical Review B, 75: 195214.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43AF-5
Zusammenfassung
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