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Zeitschriftenartikel

Analysis of results from X-ray magnetic reflectometry for magnetic multilayer systems

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75455

Fähnle,  M.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76151

Steiauf,  D.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75831

Martosiswoyo,  L.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75502

Goering,  E.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75325

Brück,  S.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76085

Schütz,  G.
Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
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Zitation

Fähnle, M., Steiauf, D., Martosiswoyo, L., Goering, E., Brück, S., & Schütz, G. (2007). Analysis of results from X-ray magnetic reflectometry for magnetic multilayer systems. Physical Review B, 75: 144415.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4351-4
Zusammenfassung
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