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Konferenzbeitrag

VEELS band gap measurements using monochromated electrons

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75535

Gu,  L.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76143

Srot,  V.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75691

Koch,  C.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76219

van Aken,  P.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C., & van Aken, P. (2008). VEELS band gap measurements using monochromated electrons. Journal of Physics: Conference Series, 126: 012005.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-415C-2
Zusammenfassung
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