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Konferenzbeitrag

Application of monochromated electrons in EELS

MPG-Autoren
/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75535

Gu,  L.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75691

Koch,  C.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76143

Srot,  V.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75886

Nelayah,  J.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76219

van Aken,  P. A.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Sigle, W., Gu, L., Koch, C., Srot, V., Nelayah, J., & van Aken, P. A. (2008). Application of monochromated electrons in EELS. Microscopy and Microanalysis, (Supplement S2), 134-135.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40DB-C
Zusammenfassung
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