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Konferenzbeitrag

Surface plasmon resonance effects in a perforated Ag film studied by energy-filtering TEM

MPG-Autoren
/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75886

Nelayah,  J.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75691

Koch,  C. T.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75911

Ögüt,  B.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76219

van Aken,  P. A.
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Sigle, W., Nelayah, J., Koch, C. T., Ögüt, B., & van Aken, P. A. (2009). Surface plasmon resonance effects in a perforated Ag film studied by energy-filtering TEM. In G. Kothleitner, & M. Leisch (Eds.), MC2009. Vol. 1: Instrumentation and Methodology (pp. 111-112). Graz: Verlag der Technischen Universität Graz, Austria.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E15-8
Zusammenfassung
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