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Zeitschriftenartikel

X-ray diffraction as a tool to study the mechanical behaviour of thin films

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75712

Kraft,  O.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75600

Hommel,  M.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75228

Arzt,  E.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde;

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Zitation

Kraft, O., Hommel, M., & Arzt, E. (2000). X-ray diffraction as a tool to study the mechanical behaviour of thin films. Materials Science and Engineering A, 288, 209-216.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-39DE-A
Zusammenfassung
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