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Zeitschriftenartikel

Stress in thin films; X-ray diffraction analysis and grain interaction

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76284

Welzel,  U.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75750

Lamparter,  P.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  E. J.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft;

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Zitation

Welzel, U., Leoni, M., Lamparter, P., & Mittemeijer, E. J. (2000). Stress in thin films; X-ray diffraction analysis and grain interaction. Powder Diffraction Newsletter, 24, 4-6.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3945-2
Zusammenfassung
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