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Konferenzbeitrag

Rigorous mathematical models for the reconstruction of thin films profiles from X-ray intensities

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75447

Ern,  C.
Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75415

Dosch,  H.
Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik;

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Zitation

Slavyanov, S., Ern, C., & Dosch, H. (2000). Rigorous mathematical models for the reconstruction of thin films profiles from X-ray intensities. In I. V. Andronov (Ed.), Proceedings of Days of Diffraction (pp. 161-167). St. Petersburg/Russia: SPbU.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-38B6-A
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