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Konferenzbeitrag

A combined approach of analytical and high-resolution TEM to determine the interface structure of Cu/(1120) α-Al2O3.

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76047

Scheu,  C.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76153

Stein,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76089

Schweinfest,  R.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76249

Wagner,  T.
Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
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Zitation

Scheu, C., Stein, W., Schweinfest, R., Wagner, T., & Rühle, M. (2000). A combined approach of analytical and high-resolution TEM to determine the interface structure of Cu/(1120) α-Al2O3. In J. Gemperlova, & I. Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, Vol. 2: Physical Sciences (pp. 413-414). Czechoslovak Society for Electron Microscopy.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-383E-B
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar