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Zeitschriftenartikel

In-situ transmission electron microscopy study of dislocations in a polycrystalline Cu thin film constrained by a substrate

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75388

Dehm,  G.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75228

Arzt,  E.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde;

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Zitation

Dehm, G., & Arzt, E. (2000). In-situ transmission electron microscopy study of dislocations in a polycrystalline Cu thin film constrained by a substrate. Applied Physics Letters, 77(8), 1126-1128.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3778-F
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