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Konferenzbeitrag

Creep behavior and microstructural stability of lamellar γ-TiAl (Cr, Mo, Si, B) with extremely fine lamellar spacing

MPG-Autoren

Dehm,  G
Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75371

Clemens,  H.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Schillinger, W., Zhang, D., Dehm, G., & Clemens, H. (2001). Creep behavior and microstructural stability of lamellar γ-TiAl (Cr, Mo, Si, B) with extremely fine lamellar spacing. In J. H. Schneidel, K. J. Hemker, R. D. Noebe, S. Hanada, & G. Sauthoff (Eds.), High-Temperature Ordered Intermetallic Alloys IX (pp. N1.4.1.-N1.4.6.). Warrendale, PA: MRS.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3705-F
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