Böhm, J. Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Böhm, J. (2001). Der Einfluß von Legierungselementen auf die Elektromigration in Submikrometer Al-Leiterbahnen. Diploma Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgart.