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Zeitschriftenartikel

Effects of thin film Nb interlayer in Cu/sapphire bonds

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75441

Elssner,  G.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Former Central Scientific Facility Metallography, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Liu, W. P., Elssner, G., & Rühle, M. (2001). Effects of thin film Nb interlayer in Cu/sapphire bonds. Materials Science and Engineering A-Structural Materials Properties Microstructure and Processing, 317(1-2 Sp. Iss. SI), 153-162.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-33FA-F
Zusammenfassung
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