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Konferenzbeitrag

The SESAM Project - Present State and Applications

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75711

Krämer,  S.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76317

Zern,  A.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75340

Cai,  Y.
Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75433

Eigenthaler,  U.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75551

Hahn,  K.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Sigle, W., Krämer, S., Zern, A., Cai, Y., Eigenthaler, U., Hahn, K., et al. (2002). The SESAM Project - Present State and Applications. In J. Engelbrecht, T. Sevell, M. Witcomb, R. Cross, & P. Richards (Eds.), Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 1 (pp. 329-330). Onderstepoort: Microscopy Society of Southern Africa.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32B2-6
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar