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High spatial resolution grain orientation and strain mapping in thin films using polychromatic submicron X-ray diffraction.

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76138

Spolenak,  R.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Tamura, N., MacDowell, A. A., Celestre, R. S., Padmore, H. A., Valek, B., Bravman, J. C., et al. (2002). High spatial resolution grain orientation and strain mapping in thin films using polychromatic submicron X-ray diffraction. Applied Physics Letters, 80(20), 3724-3726.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-310A-C
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