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Konferenzbeitrag

Creep of γ(TiAl) sheet material with a high niobium content

MPG-Autoren
/persons/resource/persons75371

Clemens,  H.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75388

Dehm,  G.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76281

Weller,  M.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Bystrzanowski, S., Bartels, A., Clemens, H., Gerling, R., Schimansky, F. P., Kestler, H., et al. (2003). Creep of γ(TiAl) sheet material with a high niobium content. In Y.-W. Kim, H. Clemens, & A. Rosenberger (Eds.), Gamma Titanium Aluminides 2003 (pp. 431-436). Warrendale, PA: TMS.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2EFD-E
Zusammenfassung
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