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Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76138

Spolenak,  R.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Tamura, N., MacDowell, A. A., Spolenak, R., Valek, B. C., Bravman, J. C., Brown, W. L., et al. (2003). Scanning X-ray microdiffraction with submicrometer white beam for strain/stress and orientation mapping in thin films. Journal of Synchrotron Radiation, 10, 137-143.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2E08-3
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