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Buchkapitel

Sputter depth profiling in AES and XPS

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76249

Wagner,  T.
Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76256

Wang,  J. Y.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75598

Hofmann,  S.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Wagner, T., Wang, J. Y., & Hofmann, S. (2003). Sputter depth profiling in AES and XPS. In D. Briggs, & J. Grant (Eds.), Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (pp. 619-649). Chichester: IM Publications.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2DDD-D
Zusammenfassung
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