de.mpg.escidoc.pubman.appbase.FacesBean
Deutsch
 
Hilfe Wegweiser Impressum Kontakt Einloggen
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Progress in quantitative sputter depth profiling using the MRI-model

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75598

Hofmann,  S.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76256

Wang,  J. Y.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Hofmann, S., & Wang, J. Y. (2003). Progress in quantitative sputter depth profiling using the MRI-model. Journal of Surface Analysis, 10, 52-57.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2D53-0
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar