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Zeitschriftenartikel

Electrical and structural characterization of a low-angle tilt grain boundary in iron-doped strontium titanate

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75677

Kienzle,  O.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76328

Zhang,  Z. L.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

De Souza, R. A., Fleig, J., Maier, J., Kienzle, O., Zhang, Z. L., Sigle, W., et al. (2003). Electrical and structural characterization of a low-angle tilt grain boundary in iron-doped strontium titanate. Journal of the American Ceramic Society, 86(6), 922-928.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2C99-B
Zusammenfassung
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