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Zeitschriftenartikel

Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates

MPG-Autoren
/persons/resource/persons76282

Wellner,  P.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75712

Kraft,  O.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75388

Dehm,  G.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75228

Arzt,  E.
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde;

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Zitation

Wellner, P., Kraft, O., Dehm, G., Anderson, J., & Arzt, E. (2004). Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates. Acta Materialia, 52, 2325-2336.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAC-2
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