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Zeitschriftenartikel

Electrical resistance of low-angle tilt grain boundaries in acceptor-doped SrTiO3 as a function of misorientation angle

MPG-Autoren

De Souza,  R. A.
Max Planck Society;

Fleig,  J.
Max Planck Society;

Maier,  J.
Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76328

Zhang,  Z.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76113

Sigle,  W.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76016

Rühle,  M.
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

De Souza, R. A., Fleig, J., Maier, J., Zhang, Z., Sigle, W., & Rühle, M. (2005). Electrical resistance of low-angle tilt grain boundaries in acceptor-doped SrTiO3 as a function of misorientation angle. Journal of Applied Physics, 97: 053502.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-27C5-2
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