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Zeitschriftenartikel

Stress Analysis of Polycrystalline Thin Films and Surface Regions by X-ray Diffraction(Review)

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons76284

Welzel,  U.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75750

Lamparter,  P.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons75858

Mittemeijer,  E.J.
Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;
Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft;

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Zitation

Welzel, U., Ligot, J., Lamparter, P., Vermeulen, A., & Mittemeijer, E. (2005). Stress Analysis of Polycrystalline Thin Films and Surface Regions by X-ray Diffraction(Review). Journal of Applied Crystallography, 38, 1-29.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2761-F
Zusammenfassung
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