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Konferenzbeitrag

Precision Optical Frequency Metrology Using Pulsed Lasers

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons60893

Udem,  Thomas
Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons60574

Holzwarth,  Ronald
Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons60970

Zimmermann,  Marcus
Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons60535

Hänsch,  T. W.
Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

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Zitation

Udem, T., Holzwarth, R., Zimmermann, M., & Hänsch, T. W. (2002). Precision Optical Frequency Metrology Using Pulsed Lasers. In Y. A. Ono, & K. Fujikawa (Eds.), Foundations of Quantum Mechanics in the Light of New Technology: Proceedings of the 7th International Symposium (pp. 253-258). Singapore: World Scientific.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-C2C2-6
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar