Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by 
ablation of organic molecular solids

Chalupsky, J.; Juha, L.; Kuba, J.; Cihelka, J.; Hajkova, V.; Koptyaev, S.; Krasa, J.; Velyhan, A.; Bergh, M.; Caleman, C.; Hajdu, J.; Bionta, R. M.; Chapman, H.; Hau-Riege, S. P.; London, R. A.; Jurek, M.; Krzywinski, J.; Nietubyc, R.; Pelka, J. B.; Sobierajski, R.; Meyer-ter-Vehn, Jürgen; Tronnier, Annika; Sokolowski-Tinten, K.; Stojanovic, N.; Tiedtke, K.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Wabnitz, H.; Zastrau, U.

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Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids

MPG-Autoren

/persons/resource/persons60703

Meyer-ter-Vehn, Jürgen
Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;
Laser Plasma Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons60887

Tronnier, Annika
Laboratory for Attosecond Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society;

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Zitation

Chalupsky, J., Juha, L., Kuba, J., Cihelka, J., Hajkova, V., Koptyaev, S., et al. (2007). Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids. Optics Express, 15(10), 6036-6043. Retrieved from http://www.opticsinfobase.org/abstract.cfm?id=134447.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-B7CF-5

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