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Zeitschriftenartikel

Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons47927

Gelbert,  M.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48674

Rühe,  Jürgen
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48112

Johannsmann,  Diethelm
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

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Zitation

Roters, A., Gelbert, M., Schimmel, M., Rühe, J., & Johannsmann, D. (1997). Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope. Physical Review E, 56(3), 3256-3264.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5818-4
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