Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the 
noise of an atomic force microscope

Roters, A.; Gelbert, M.; Schimmel, M.; Rühe, Jürgen; Johannsmann, Diethelm

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Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope

MPG-Autoren

/persons/resource/persons47927

Gelbert, M.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

/persons/resource/persons48674

Rühe, Jürgen
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

/persons/resource/persons48112

Johannsmann, Diethelm
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

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Zitation

Roters, A., Gelbert, M., Schimmel, M., Rühe, J., & Johannsmann, D. (1997). Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope. Physical Review E, 56(3), 3256-3264.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5818-4

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