de.mpg.escidoc.pubman.appbase.FacesBean
Deutsch
 
Hilfe Wegweiser Impressum Kontakt Einloggen
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Freigegeben

Zeitschriftenartikel

Determination of Micrometer Length Scales with an X-ray Reflection Ultra Small-Angle Scattering Set-Up

MPG-Autoren
http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons47693

Casagrande,  M.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons47980

Gutmann,  Jochen S.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48237

Kuhlmann,  T.
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

http://pubman.mpdl.mpg.de/cone/persons/resource/persons48792

Stamm,  Manfred
MPI for Polymer Research, Max Planck Society;

Externe Ressourcen
Es sind keine Externen Ressourcen verfügbar
Volltexte (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Volltexte verfügbar
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Müller-Buschbaum, P., Casagrande, M., Gutmann, J. S., Kuhlmann, T., Stamm, M., von Krosigk, G., et al. (1998). Determination of Micrometer Length Scales with an X-ray Reflection Ultra Small-Angle Scattering Set-Up. Europhysics Letters, 42, 517-522.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5603-F
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar